A aparência tridimensional das imagens obtidas em um MEV é resultado direto:

O MEV NÃO pode fornecer informações sobre:

O MEV utiliza um feixe de elétrons para obter imagens, enquanto um microscópio ótico convencional utiliza luz visível para este mesmo propósito. O fato de o microscópio eletrônico usar um feixe de elétrons permite:

As imagens geradas no MEV são formadas a partir de sinais originados da interação elétron- -matéria e captados por detectores. Os tipos de sinais utilizados na formação de imagem por microscopia eletrônica de varredura são elétrons:

No MEV, a amostra funciona como uma junção elétrica. Os elétrons que incidiram na amostra devem ser conduzidos para o porta-objeto que se encontra no potencial terra. Por isso, para amostra não condutora, recomenda-se:

Em geral, os microscópios de duplo feixe (dual beam) dispõem de um sistema injetor de gases para depositar sobre a superfície da amostra um filme metálico. Assinale a alternativa que descreve corretamente o mecanismo de deposição de materiais no microscópio de duplo feixe.

Assim como o feixe de elétrons, o feixe de íons pode gerar um grande acúmulo de cargas em amostras não condutoras. Indique a opção que descreve uma estratégia para diminuir o acúmulo de cargas provocado por um feixe de íons gálio.

Algumas etapas são importantes durante o processo de tomografia de materiais embutidos em resina epóxi no microscópio de duplo feixe (Dual Beam). Assinale a alternativa correta acerca dessas etapas.

A interação elétron-matéria gera diversos sinais que podem ser usados para formar imagens. O gálio é um dos íons mais utilizados nos microscópios de duplo feixe (Dual Beam). Sobre esse tema, é correto afirmar que:

O MEV e FIB podem ser associados em um único instrumento. O microscópio de duplo feixe (Dual Beam) apresenta várias vantagens. Indique a opção que apresenta corretamente estas vantagens.