O contraste das imagens no MEV é formado pela variação da intensidade dos elétrons secundários e retroespalhados que são originados da interação elétron-matéria. Assinale a alternativa correta considerando um feixe de 30 keV.

Durante a aquisição de séries tomográficas no microscópio de duplo feixe, dependendo da sofisticação do instrumento, o usuário poderá dispor de alguns recursos para correção de parâmetros importantes para que uma série de qualidade (com o maior contraste e resolução que o modelo permitir) seja gerada. Entre estes, podemos citar:

A segmentação de dados tomográficos permite a obtenção de dados morfométricos a partir dos modelos 3D gerados. Entre estes, podemos citar:

A segmentação de dados tomográficos obtidos no microscópio eletrônico de duplo feixe por limiar de contraste se caracteriza por permitir que:

Na imunocitoquímica associada à microscopia eletrônica de varredura podemos afirmar que:

Sobre a preparação de materiais biológicos para observação no MEV, em modo normal de operação, é INCORRETO afirmar que:

A espectroscopia de energia dispersiva de raio-x (EDS) consiste da identificação dos raios-x emitidos de uma região microscópica da amostra bombardeada pelo feixe de elétrons. Sobre isso é INCORRETO afirmar que:

Dos parâmetros apresentados abaixo o que NÃO influencia na resolução da imagem em um MEV é o/a:

A construção da coluna óptico-eletrônica do MEV visa à produção de um pequeno feixe de elétrons de alta intensidade. NÃO faz parte desta coluna:

O volume de interação elétron-matéria no MEV é maior que o feixe de elétrons primário que incide na amostra. A imagem gerada pelos retroespalhados fornece informações: