O feixe de elétrons do MEV e o feixe de íons do microscópio de feixe de íons focalizado (FIB) apresentam características particulares. Assinale a opção correta sobre tais características.

Os microscópios de duplo feixe (Dual-beam) são equipados com uma coluna de elétrons (MEV) e uma coluna de íons (FIB). Assinale a opção que caracteriza corretamente o funcionamento do FIB e do MEV.

Na aquisição automática de séries tomográficas no microscópio de duplo feixe, a amplitude do foco dinâmico para cada plano da série pode ser calculado ao:

Durante a aquisição de séries tomográficas de amostras biológicas preparadas para MET (pós- -fixadas com ósmio) em um microscópio de duplo feixe, diferentes sinais podem ser obtidos para formar as imagens da série. Assim, seria correto afirmar que o sinal de elétrons retroespalhados:

detector cintilador fotomultiplicador (Everhart Thornley) é um dos mais utilizados nos microscópios eletrônicos de varredura. Indique a opção que descreve corretamente o(s) sinal(ais) que contribui(em) para a formação do contraste quando o detector Everhart Thornley é usado.

O raio do volume de interação do feixe de elétrons com a amostra pode variar com as características da amostra e do feixe de elétrons. Assinale a opção correta sobre este tema.

O MEV dispõe de aberturas no seu sistema ótico. Assinale a opção que relaciona corretamente o tamanho da abertura da lente objetiva, a corrente de elétrons sobre a amostra e a profundidade de campo.

O MEV utiliza um sistema de lentes para focalizar o feixe de elétrons sobre a amostra. As lentes do microscópio apresentam planos objeto, focal e imagem. Assinale a opção correta que caracteriza o sistema ótico do MEV.

O MEV dispõe de diversas lentes e bobinas eletromagnéticas. A lente objetiva (última lente do sistema ótico) do MEV é uma das lentes mais importantes para a resolução das imagens. A função da lente objetiva no MEV é:

O microscópio eletrônico de varredura (MEV) pode capturar imagens com grandes magnificações e resolução na escala nano. Assinale a alternativa que descreve o componente do MEV responsável pelo ajuste da magnificação e a relação entre a magnificação e as características do feixe de elétrons para a aquisição de imagens com boa resolução.