Dos parâmetros apresentados abaixo o que NÃO influencia na resolução da imagem em um MEV é o/a:

A construção da coluna óptico-eletrônica do MEV visa à produção de um pequeno feixe de elétrons de alta intensidade. NÃO faz parte desta coluna:

O volume de interação elétron-matéria no MEV é maior que o feixe de elétrons primário que incide na amostra. A imagem gerada pelos retroespalhados fornece informações:

A aparência tridimensional das imagens obtidas em um MEV é resultado direto:

O MEV NÃO pode fornecer informações sobre:

O MEV utiliza um feixe de elétrons para obter imagens, enquanto um microscópio ótico convencional utiliza luz visível para este mesmo propósito. O fato de o microscópio eletrônico usar um feixe de elétrons permite:

As imagens geradas no MEV são formadas a partir de sinais originados da interação elétron- -matéria e captados por detectores. Os tipos de sinais utilizados na formação de imagem por microscopia eletrônica de varredura são elétrons:

No MEV, a amostra funciona como uma junção elétrica. Os elétrons que incidiram na amostra devem ser conduzidos para o porta-objeto que se encontra no potencial terra. Por isso, para amostra não condutora, recomenda-se:

Em geral, os microscópios de duplo feixe (dual beam) dispõem de um sistema injetor de gases para depositar sobre a superfície da amostra um filme metálico. Assinale a alternativa que descreve corretamente o mecanismo de deposição de materiais no microscópio de duplo feixe.

Assim como o feixe de elétrons, o feixe de íons pode gerar um grande acúmulo de cargas em amostras não condutoras. Indique a opção que descreve uma estratégia para diminuir o acúmulo de cargas provocado por um feixe de íons gálio.