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Algumas etapas são importantes durante o processo de tomografia de materiais embutidos em resina epóxi no microscópio de duplo feixe (Dual Beam). Assinale a alternativa correta acerca dessas etapas.
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A interação elétron-matéria gera diversos sinais que podem ser usados para formar imagens. O gálio é um dos íons mais utilizados nos microscópios de duplo feixe (Dual Beam). Sobre esse tema, é correto afirmar que:
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O MEV e FIB podem ser associados em um único instrumento. O microscópio de duplo feixe (Dual Beam) apresenta várias vantagens. Indique a opção que apresenta corretamente estas vantagens.
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O feixe de elétrons do MEV e o feixe de íons do microscópio de feixe de íons focalizado (FIB) apresentam características particulares. Assinale a opção correta sobre tais características.
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Os microscópios de duplo feixe (Dual-beam) são equipados com uma coluna de elétrons (MEV) e uma coluna de íons (FIB). Assinale a opção que caracteriza corretamente o funcionamento do FIB e do MEV.
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Na aquisição automática de séries tomográficas no microscópio de duplo feixe, a amplitude do foco dinâmico para cada plano da série pode ser calculado ao:
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Durante a aquisição de séries tomográficas de amostras biológicas preparadas para MET (pós- -fixadas com ósmio) em um microscópio de duplo feixe, diferentes sinais podem ser obtidos para formar as imagens da série. Assim, seria correto afirmar que o sinal de elétrons retroespalhados:
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detector cintilador fotomultiplicador (Everhart Thornley) é um dos mais utilizados nos microscópios eletrônicos de varredura. Indique a opção que descreve corretamente o(s) sinal(ais) que contribui(em) para a formação do contraste quando o detector Everhart Thornley é usado.
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O raio do volume de interação do feixe de elétrons com a amostra pode variar com as características da amostra e do feixe de elétrons. Assinale a opção correta sobre este tema.
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O MEV dispõe de aberturas no seu sistema ótico. Assinale a opção que relaciona corretamente o tamanho da abertura da lente objetiva, a corrente de elétrons sobre a amostra e a profundidade de campo.
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