Um objeto está submerso em um fluido em equilíbrio estático a uma profundidade h. Nessas condições, a pressão sobre o objeto p₁ = p. Em seguida, o objeto foi colocado em uma profundidade 3h e a pressão sobre o objeto passou a ser p₂ = 2p. Sabendo que a pressão na superfície é dada por p0 = 10 MPa, as pressões p₁ e p₂, são, respectivamente, iguais a

Observe a figura abaixo:







A leitura de paquímetro em milímetros é feita da seguinte maneira: leem-se, na escala fixa, os milímetros até antes do “zero” do Vernier. Depois, contam-se os traços do Vernier até aquele que coincide com um traço da escala fixa e somam-se os valores encontrados. Conforme a figura do paquímetro acima a leitura, em milímetros, será de:

Os extensômetros são muito usados para medir a deformação, dentre os quais, destacam-se os extensômetros do tipo rosetas “R” que possuem três grades as quais podem ser dispostas basicamente em duas configurações, com ângulos variando com determinadas variações entre as grades. Os ângulos possíveis de variação para este tipo de extensômetros são:

Um instrumentador ao realizar a medição de determinada ferramenta em uma régua posicionou-se mais a lateral do ponto que desejava verificar a medida, conforme demonstrado na figura. Diante da situação apresentada, o tipo de erro que é possível que esse instrumentador cometa é:

Durante o processo de calibração muitas vezes é necessário validar os métodos utilizados em situações que não existem modelos normatizados. Para isso, é necessário que os métodos sejam devidamente validados de forma apropriada, antes da sua utilização, de forma a não gerar resultados inconsistentes. Diante do exposto, assinale a alternativa que indica a técnica que não pode ser aplicada para validação de um método de calibração.

Julgue o item subsequente, a respeito de filmes finos inorgânicos.

Ao contrário do material em bulk, filmes finos de semicondutores não podem sofrer um processo de dopagem para modificar suas propriedades elétricas, porque esse tipo de processo tende a romper a estrutura cristalina.

Julgue o próximo item, acerca da caracterização de nanomateriais.

Diferentemente da microscopia óptica, que utiliza fonte de luz visível e lentes eletromagnéticas para produzir imagens ampliadas na escala micrométrica, a microscopia eletrônica utiliza feixes de elétrons acelerados e lentes eletrostáticas para gerar imagens de alta resolução, alcançando a escala atômica.

Julgue o item seguinte, a respeito das propriedades dos nanomateriais.

Quando uma partícula metálica ou semicondutora apresenta dimensões menores que o comprimento de onda da radiação que incide sobre esse material, pode-se observar o fenômeno óptico denominado ressonância de plasmon de superfície.

Em relação aos fundamentos da nanotecnologia, julgue o item a seguir.

Dadas as particularidades físico-químicas dos nanomateriais, eles raramente se degradam ou oxidam quando expostos, por exemplo, a luz, temperatura e outros compostos químicos.