Foi realizado um ensaio de caracterização por difração de raios X em uma amostra constituída por óxido de cério puro, na execução da qual foi empregada radiação monocromática com comprimento de onda igual a 0,1542 nanômetros. Como parte dos resultados obtidos neste ensaio, foram identificados os picos de difração que constam no padrão (difratograma) apresentado a seguir. Dentre as alternativas a seguir, sinalize a que apresenta, corretamente, os valores das distâncias interplanares relacionadas, respectivamente, aos planos cujos índices de Miller estão marcados na figura.

Fonte da Imagem:UFCA