O espectro de infravermelho do n-hexanal revelou um pico de absorção intenso relacionado à vibração de esiramento da carbonila. Considerando a constante de força da ligação C=O como sendo 1,13×10³ N m^-1, e conhecendo as massas atômicas do carbono (12×10-3 kg mol^-1) e oxigênio (16×10^-3 kg mol^-1), qual o número de onda aproximado onde se observa o pico do estiramento mencionado? Dado: \( \sqrt{1,03\times10^{29^{ }}=} \) 3 ,21×10¹⁴ .

No deslocamento hipsocrômico, observa-se:

Acerca das férias, assinale a assertiva correta consoante a Lei nº 8.112, de 11 de dezembro de 1990.

Os processos de preparação das amostras para a técnica de caracterização por Fluorescência de Raios X – FRX, são, normalmente, considerados como sendo relativamente fáceis porque a amostra pode ser submetida à análise em estado físico sólido como partícula única, na forma de pó ou na forma líquida. No entanto, é necessário realizar a preparação da amostra com muito cuidado, pois existem diferentes fatores ou condições que podem exercer influência sobre o resultado da análise. Dentro deste contexto de preparação de amostras para a técnica de caracterização de materiais por FRX, assinale a alternativa correta.

É correto afirmar que os principais componentes dos espectrômetros de raios x, são:

A luz visível (energia eletromagnéica) emiida por uma fonte como o sol ou uma lâmpada vibra em todas as direções, conforme ilustrado na figura abaixo. Quando a luz é tratada como uma onda oscilante de energia electromagnética, a direção de propagação descreve a direção na qual a frente de onda está se movendo no espaço. A direção da vibração descreve como a onda está oscilando (aqui, para cima e para baixo no plano do papel). Quando a luz não é polarizada, a direção de propagação é constante, mas apenas um plano de vibração é detectado. Neste contexto, dentre as sentenças apresentadas a seguir, assinale a única alternativa correta.

Fonte da Imagem: Bell e Morris, 2010.

Se um pesquisador precisa caracterizar suas amostras de estudo, constituídas de material metálico com retículo cristalino CFC, tipo aço inoxidável austenítico, a fim de investigar a possibilidade da presença de defeitos de empilhamento; qual deve ser a recomendação do técnico do laboratório de caracterização de materiais acerca da técnica que satisfará, de forma assertiva, a necessidade deste pesquisador?

São consideradas limitações da técnica de caracterização por microscopia eletrônica de varredura:

Foi realizado um ensaio de caracterização por difração de raios X em uma amostra constituída por óxido de cério puro, na execução da qual foi empregada radiação monocromática com comprimento de onda igual a 0,1542 nanômetros. Como parte dos resultados obtidos neste ensaio, foram identificados os picos de difração que constam no padrão (difratograma) apresentado a seguir. Dentre as alternativas a seguir, sinalize a que apresenta, corretamente, os valores das distâncias interplanares relacionadas, respectivamente, aos planos cujos índices de Miller estão marcados na figura.

Fonte da Imagem:UFCA

Para planos paralelos em um mesmo retículo cristalino, as condições necessárias para que ocorra a difração de raios x vão depender da diferença de caminho percorrida pelos raios x e do comprimento de onda da radiação incidente. Tal condição é relacionada, matematicamente, na (o):