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No topo da hierarquia de documentos do sistema da qualidade, encontra-se o seguinte tipo de documentação:

Quanto à Demonstração do Valor Adicionado, é correto afirmar que:

Analise as sentenças abaixo sobre testes na fabricação de circuitos integrados:

I) Uma das etapas na fabricação de circuitos integrados é conhecida como “Wafer Testing”, que consiste em realizar testes funcionais em todos os circuitos integrados presentes em um wafer.

II) “Wafer Prober” é como se chama o equipamento utilizado para realização de testes em circuitos integrados.

III) Durante um teste de circuitos integrados em um wafer, somente alguns CIs são testados sendo feito um processo de amostragem.

Estão corretas as assertivas:

O plano que abrange a comunicação interna, institucional e de marketing é chamado de plano de comunicação

As formas de tratamento corretas para diretores de autarquias federais, estaduais e municipais são

Em relação aos sistemas ERP (Enterprise Resource Planning) não se pode afirmar:

Ao realizar alguns testes em um transistor MOS desconhecido, um engenheiro conectou o terminal fonte ao terra e o terminal dreno a uma tensão positiva de forma que V_DS>0. O terminal de porta também foi aterrado, fazendo V_GS = 0. Variando V_DS, conseguiu medir diferentes valores de corrente entre dreno e fonte (I_DS), encontrando uma curva esperada para transistores MOS. Com estas informações, é possível afirmar que este transistor:

As seguintes métricas são críticas para o monitoramento e otimização da produção em uma fábrica de semicondutores: Capacidade de processamento (Throughput); Tempo de Ciclo de Fábrica (Fab Cycle Time); Inventário de Trabalho-emprocessamento (Work-In-Progress Inventory). Como essas métricas devem ser otimizadas para que a produtividade de uma fábrica de semicondutores seja maximizada?