Assinale a alternativa incorreta sobre DRC e/ou LVS.

Qual componente do rendimento (yield) de um processo é independente da área do circuito integrado (die) sendo calculada utilizando análise de aglomerados (cluster analysis)?

Seja um estágio de saída classe B que fornece 40,5 W para uma carga de 9 Ω. Sabe-se que a tensão provida pela fonte de alimentação possui valor igual à tensão de pico de saída a fim de evitar a saturação dos transistores do circuito. Pode-se afirmar que o rendimento da conversão de potência e a potência máxima dissipada em cada transistor para operação segura são, respectivamente, iguais a (utilize!$ \pi=3 !$ nos cálculos)

Evitar a ostensividade nos exames e no plano de trabalho que executa bem como o detalhamento exagerado de fatos que não contribuam para as conclusões propostas de seu trabalho representa padrões de conduta próprios da função do auditor, que são definidos, respectivamente, como

Cérebro dos sistemas e equipamentos eletrônicos, os chips, semicondutores de silício, são constantemente aperfeiçoados, ganhando cada vez mais precisão, com peças menores e mais eficientes. Isso significa também o surgimento de uma preocupação obsessiva com a limpeza. Qualquer infinitesimal partícula de sal ou de contaminantes orgânicos remanescentes na água pode provocar passagem de corrente elétrica e consequentes curtos-circuitos entre os trilhos condutivos do chip, danificando os sofisticados equipamentos. Quanto menor for a distância entre os trilhos, o que se traduz por maior capacidade de transmitir informações, maior será a necessidade de ultrapurificar a água. Dentre os tratamentos usuais para a obtenção de água ultrapura, pode-se destacar o seguinte tratamento terciário:

Considere a seguinte afirmação: Em Java, quando um objeto não possui referências a ele em lugar nenhum, exceto em outros objetos que também não são referenciados ele está em condições de ser coletado pelo garbage collector. Contudo, a liberação da memória não é necessariamente imediata.

Esta afirmação está

Caracteriza a estrutura da moderna gestão de pessoas o subsistema de

Em relação aos conceitos básicos de metrologia, a operação que estabelece uma relação entre os valores e as incertezas de medição fornecidas por padrões e as indicações correspondentes com as incertezas associadas é conhecida como

Na simulação, o Verilog AMS gera um evento chamado: “final_step event”. Em relação a esse evento, é correto afirmar que

Observe o código a seguir:

module CL(enable, In_4, Out_16);
input enable; input [3:0] In_4; output [15:0] Out_16;
reg [15:0] Out_16;
always @(enable or In_4)
begin Out_16 = 16'hzzzz;
if (enable == 1)
begin Out_16 = 16'h0000; Out_16[In_4] = 1; end
end
endmodule

Esse código implementa o seguinte tipo de circuito combinacional: