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O regime de operação intermitente do microscópio de força Atômica (AFM) é caracteri zado por:

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A geração da imagem no microscópio de força atômica (AFM) é decorrente da interação entre a ponteira e amostra. São fatores que influenciam, diretament e, na força de interação entre a amostra e a ponteira do microscópio:

Uma importante substância para o tingimento de polímeros a fim de observar em microscópio eletrônico de varredura é

Em relação aos regimes de operação do Microscópio de Força Atômica (AFM), tem -se as seguintes afirmações.

I No regime de contato, a viga é mantida a uma distância de décimos de micrometro (µm) da amostra, e a força atuante é repulsiva.

II No regime sem contato, a viga é mantida a uma distância de dezenas de nanômetros (nm) da amostra, e a força atuante é atrativa.

III No regime de contato, a viga é mantida a uma distância de décimos de nanômetros (nm) da amostra, e a força atuante é repulsiva.

IV No regime sem contato, a viga é mantida a uma distância de dezenas de micrometros (nm) da amostra, e a força atuante é repulsiva.

Em relação a esses regimes, estão corretas as afirmações