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A reconstrução de imagens de microscopia eletrônica de transmissão por séries focais é utilizada para
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Deseja-se analisar, por Microscopia Eletrônica de Varredura, a seção transversal de um eletrólito cerâmico constituído de Céria dopada com Gadolinia (CGO). Necessita -se quantificar o tamanho de grão e a presença de fases secundárias precipitadas nos contornos de grão. A opção na qual há a melhor especificação das etapas de preparação, dos detectores utilizados para geração das imagens, do detector para análise química e da fonte de elétrons é:
| Etapas de Preparação | Detector para imagens | Detector análise química | Fonte de Eletrons |
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É uma vantagem da tomografia de elétrons em relação à reconstrução 3D a partir de cortes seriados:
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Na microscopia eletrônica, o feixe eletrônico é alinhado pela
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O microscópio eletrônico de varredura de dois feixes (dual beam) é constituído de
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Na formação da imagem em microscopia eletrônica de transmissão, a variação do aumento implica que
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As afirmações a seguir referem-se aos microscópios eletrônicos de varredura por emissão de campo (FEG) e aos sistemas convencionais equipados com filamentos de tungstênio ou com filamentos de hexaboreto de lantânio.
I O sistema FEG necessita de menores temperaturas de excitação do filamento.
II O filamento de hexaboreto de lantânio possibilita a utilização de meno res níveis de vácuo na coluna em relação aos demais.
III O filamento convencional de tungstênio apresenta menor tempo de vida em relação aos demais.
IV O sistema FEG necessita de menores níveis de vácuo na coluna em relação aos demais.
Em relação a esses sistemas, estão corretas as afirmações
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A técnica de WDS pode usar janelas que permitem alta transmissão de raios -X. Para isso, é necessário que os cristais utilizados para a difração dos raios –X apresentem
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Os detectores in-lens para microscopia eletrônica de varredura permitem a utilização
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As afirmações a seguir referem-se à análise química realizada através de espectroscopia de energia dispersiva (EDS) e de espectroscopia por dispersão em comprimento de on da (WDS).
I EDS possibilita a observação do espectro inteiro de raios -X de modo simultâneo, o que permite análise qualitativa rápida dos constituintes principais.
II WDS deve ser varrido na faixa de comprimento de onda, sendo necessária a troca de vários cristais para cobrir a mesma faixa de energia como o EDS.
III WDS e o EDS conseguem detectar elementos leves com a mesma resolução.
IV EDS não é afetado pelo volume de interação de elétrons.
Em relação às duas técnicas de análise química, estão corretas as afirmações
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