A simulação de falhas consiste na simulação da ocorrência de falhas de determinado modelo, comparando-se o resultado do teste com o da simulação sem falhas. Essa simulação pode ser corretamente utilizada para a verificação da cobertura de falhas, isto é, do percentual de falhas detectadas por estímulos aplicados.

No circuito abaixo, o vetor (A, B, C, D) = (0, 1, 1, 0) detecta a falha A s-a-1.

Falhas permanentes ocorrem devido a defeitos de fabricação e, ao contrário de falhas intermitentes, podem ser determinadas pelos testes offline de produção.

Sistemas críticos em segurança, como controle de reatores nucleares e veículos espaciais, não utilizam mecanismos de teste online devido ao risco representado pela sobrecarga de cálculo durante o funcionamento do circuito.

O teste paramétrico verifica parâmetros não-discretos, como margem de ruído e atrasos de propagação em variadas condições de trabalho. Esse teste utiliza métodos diferentes do teste funcional, que opera com valores lógicos.

O teste para diagnóstico é utilizado durante a depuração da pastilha e seu objetivo é identificar e localizar falhas.

Um elemento de circuito autotemporizado é o elemento C de Muller. Esse elemento comporta-se como um latch com duas entradas, sendo que a saída só muda quando as entradas forem iguais, senão, mantém o valor anterior.

Circuitos autotemporizados (self-timed) podem ser utilizados para acelerar estruturas em pipeline, na medida em que reduzem o tempo médio de execução nos estágios, enquanto que no pipeline síncrono o relógio é dimensionado pelo pior caso.

Circuitos assíncronos eliminam a necessidade de um relógio global. Esses circuitos são constituídos por módulos independentes, sincronizados aos pares por relógios locais.

Em sistemas VLSI síncronos, o deslizamento do relógio (clock skewing) constitui, normalmente, um problema, porém, em certos casos, ele pode ser utilizado para acelerar a vazão em estruturas do tipo pipeline.