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Foram encontradas 70 questões.

1717610 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia de Telecomunicações
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.

As equações de diferenças lineares com coeficientes constantes são uma forma de se calcular a saída de sistemas discretos no tempo, quando esses são lineares e variantes ao deslocamento.

 

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1717609 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia de Telecomunicações
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.

A região de convergência da transformada z de seqüências definidas à direita corresponde ao exterior de um círculo de raio superior ao pólo de maior módulo dessa seqüência.

 

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1717608 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia de Telecomunicações
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.

O ruído em um sinal digitalizado aumenta quando o comprimento de palavra digital do conversor analógico/digital é aumentado.

 

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1717607 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia de Telecomunicações
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.

O ruído de quantização corresponde ao erro da aproximação de amplitude de um sinal analógico quando representado na forma discreta no tempo com um comprimento finito de palavra digital.

 

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1717606 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia de Telecomunicações
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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A respeito de técnicas de processamento de sinais digitais e analógicos, julgue os itens a seguir.

Um sinal analógico limitado em banda pode ser reconstruído a partir de suas amostras obtidas a uma taxa igual ou inferior à máxima freqüência existente no espectro do sinal.

 

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1717605 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

Com relação à testabilidade, os módulos multi-chip (MCM) podem ser testados após o encapsulamento, o que permite reduzir o custo do teste.

 

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1717604 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

O auto-teste integrado (BIST) é um mecanismo que integra funções de teste no próprio chip, simplificando e reduzindo o custo do teste. Por outro lado, apresenta a desvantagem de aumentar o custo da pastilha e pode reduzir o rendimento (yield) de fabricação.

 

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1717603 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A controlabilidade de um sinal é um conceito relativo à testabilidade de circuitos que indica a capacidade de se propagar uma informação a partir de um nodo interno até as saídas do circuito.

 

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1717602 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A técnica do boundary-scan é a base da norma de teste IEEE 1149.1, adotada em diversos produtos no mercado, e é composta, basicamente, de um registrador de instruções, um registrador de dados de teste, uma porta de acesso à infra-estrutura de teste (TAP) e seu controlador.

 

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1717601 Ano: 2004
Disciplina: Engenharia Eletrônica
Banca: CESPE / CEBRASPE
Orgão: CTI
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No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.

A geração automática de vetores de teste é um processo que produz os vetores de saída correspondentes aos estímulos fornecidos, necessários à determinação da cobertura de falhas.

 

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