Foi realizado um ensaio de caracterização por difração de raios X em uma amostra constituída por óxido de cério puro, na execução da qual foi empregada radiação monocromática com comprimento de onda igual a 0,1542 nanômetros. Como parte dos resultados obtidos neste ensaio, foram identificados os picos de difração que constam no padrão (difratograma) apresentado a seguir. Dentre as alternativas a seguir, sinalize a que apresenta, corretamente, os valores das distâncias interplanares relacionadas, respectivamente, aos planos cujos índices de Miller estão marcados na figura.

Fonte da Imagem:UFCA

Para planos paralelos em um mesmo retículo cristalino, as condições necessárias para que ocorra a difração de raios x vão depender da diferença de caminho percorrida pelos raios x e do comprimento de onda da radiação incidente. Tal condição é relacionada, matematicamente, na (o):

A figura exibida a seguir é a representação gráfica do resultado de um ensaio de difração de raios x realizado em uma amostra de um material desconhecido. Com base na análise deste perfil gráfico representativo de padrão de difração, é possível afirmar que o material em questão pode ser classificado como:

Fonte da Imagem:UFCA

A fim de atender a uma aplicação industrial específica, um determinado trabalho de pesquisa precisa caracterizar uma amostra de Pedra Cariri para identificar e quantificar a(s) fase(s) responsável(s) pela constituição da configuração estrutural deste material rochoso, bem como identificar o sistema cristalino ao qual a(s) fase(s) pertence(em). Neste caso, deve-se recomendar qual técnica de caracterização aos responsáveis por este trabalho de pesquisa?

Foi solicitada a caracterização estrutural completa de duas amostras, inicialmente apontadas como sendo constituídas por alumina de alta pureza. Ao término da execução das caracterizações os resultados obtidos não se mostraram condizentes com as informações inicialmente fornecidas. Os perfis gráficos obtidos como resultado das caracterizações em questão estão exibidos a seguir.

Fonte da Imagem: UFCA

É incorreto afirmar, como conclusão, da interpretação destes resultados que:

Considere o processo de produção de raios X e assinale a alternaiva correta.

Os raios X com energias que variam de cerca de 100 eV a 10 X 10⁶ eV são classificados como ondas eletromagnéticas, que diferem das ondas de rádio, luz e raios gama apenas em comprimento de onda e energia. De acordo com a teoria quântica, a energia eletromagnética das ondas de raios X pode ser tratada como partículas chamadas de:

É sabido que a técnica de caracterização por microscopia eletrônica de varredura – MEV, trata-se de uma técnica de análise da superfície da amostra, também conhecida como análise topográfica. A imagem ilustrada a seguir representa uma fotomicrograia que foi obtida como resultado de uma análise de MEV realizada em uma amostra de α-Al2O3, na forma de pó, com dimensão média de tamanho de partícula abaixo de 100 nm. Neste contexto, assinale a alternativa que apresenta a técnica recomendada, de acordo com a literatura, para a preparação de uma amostra desta natureza.

Fonte da Imagem: UFCA

Na ilustração a seguir está exibido um esquema básico representativo de um equipamento empregado na execução de uma importante técnica de caracterização de materiais. Nem todos os itens e/ou dispositivos que fazem parte da Arquitetura física do equipamento em questão estão descritos nesta ilustração. De acordo com a ilustração apresentada, como este equipamento deve ser classificado?

Fonte da Imagem: Tanaka, 2015.

Considere uma técnica de caracterização de materiais, na qual a amostra sob invesigação precisa ser excitada por parículas como elétrons, prótons ou íons produzidos em aceleradores de parículas ou ondas eletromagnéicas; o processo mais uilizado para essa inalidade é o tubo de raios X. Para facilitar a ideniicação da técnica é informado, ainda, que o princípio da mesma se baseia na medição das intensidades dos raios X caracterísicos emiidos pelos elementos que consituem a amostra em análise. Estas informações fazem referência à qual técnica de caracterização?